描述

產品參數(shù)

• 波長范圍：633nm – 860nm
• 穩(wěn)定性：±0.1nm
• 帶寬：0.5nm
• 探測器類型：Si
• 最大檢測靈敏度：10nW
• 光學輸出：1mW
• 數(shù)據(jù)輸出：RS-232
• 工作溫度：10°C – 30°C

產品規(guī)格

• 外觀尺寸：280mm × 330mm × 130mm
• 重量：7.6kg
• 輸入電源：100V – 240V AC, 50/60Hz

應用領域

• 光學干涉測量
• 光學元件測試
• 材料表征

產品使用說明

1. 將干涉儀放置在平穩(wěn)的表面上
2. 連接干涉儀電源
3. 連接需要測試的光學元件
4. 打開干涉儀測量軟件并進行測量

產品介紹

Agilent HP 5517B 干涉儀是一款高精度的光學測試儀器，可用于光學干涉測量、光學元件測試和材料表征。其穩(wěn)定性和靈敏度優(yōu)異，可滿足各種光學測試需求。

技術說明

Agilent HP 5517B 干涉儀采用Si探測器和RS-232數(shù)據(jù)輸出，具有波長范圍廣、穩(wěn)定性好、檢測靈敏度高等特點，可用于各種光學測試領域。

常見問題解答

Q: 如何保證干涉儀測量精度？ A: 在使用干涉儀前，需確保其放置在平穩(wěn)的表面上，避免振動和其他干擾因素的影響，同時還需校準干涉儀以確保其精度。

Q: 如何進行干涉儀的數(shù)據(jù)輸出？ A: 干涉儀的數(shù)據(jù)輸出采用RS-232接口，需連接到計算機或其他數(shù)據(jù)處理設備上進行輸出和處理。

山西潤盛進出口有限公司

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